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應(yīng)用領(lǐng)域
01.熱電材料開發(fā)與性能優(yōu)化
測(cè)量半導(dǎo)體、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數(shù)與電導(dǎo)率,計(jì)算ZT值(熱電優(yōu)值)
評(píng)估材料在高溫(如1500℃)或極端環(huán)境(真空/還原氣氛)下的熱電轉(zhuǎn)換效率
02.能源材料與器件研究
鋰離子電池電極材料、固態(tài)電解質(zhì)的電阻率與界面接觸特性分析
燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導(dǎo)電性能測(cè)試
03.電子與功能材料表征
半導(dǎo)體薄膜、導(dǎo)電高分子、金屬氧化物的電輸運(yùn)特性研究
高溫超導(dǎo)材料、陶瓷基復(fù)合材料的電阻-溫度關(guān)系曲線測(cè)定
04.工業(yè)材料質(zhì)量控制與工藝優(yōu)化
合金、陶瓷、碳材料的熱-電協(xié)同性能檢測(cè),指導(dǎo)燒結(jié)工藝參數(shù)調(diào)整
高溫涂層、耐腐蝕材料在模擬工況(如真空、惰性氣氛)下的電學(xué)行為評(píng)估
05.科研與標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試
高校及科研院所用于熱電效應(yīng)、導(dǎo)電機(jī)制等基礎(chǔ)理論研究
依據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(如ASTM E1225)開展材料熱電性能認(rèn)證測(cè)試
測(cè)試軟件
經(jīng)過(guò)專家團(tuán)隊(duì)與應(yīng)用工程師的聯(lián)合攻關(guān),華測(cè)儀器研發(fā)出新一代智能測(cè)量軟件。該軟件深度集成計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng),適配Windows 10/11操作系統(tǒng),可自動(dòng)完成信號(hào)激勵(lì)、數(shù)據(jù)采集、實(shí)時(shí)處理及結(jié)果輸出全流程,并通過(guò)可視化界面直觀呈現(xiàn)測(cè)試成果,顯著提升了操作便捷性與測(cè)試效率。
特點(diǎn)
01.文本編輯
02.重復(fù)測(cè)量可少的輸入?yún)?shù)
03.實(shí)時(shí)測(cè)量分析
04.測(cè)量曲線比較:多達(dá)32條曲線
05.曲線扣除
06.曲線放大縮小
07.一階/二階求導(dǎo)
08.多重峰分析
09.樣品溫度多點(diǎn)校正
10.多種方法分析(DSC TG 、TMA、DIL等)
11.焓變多點(diǎn)校正
12.熱流Cp測(cè)量
13.評(píng)估結(jié)果保存及導(dǎo)出
14.ASCII數(shù)據(jù)導(dǎo)入與導(dǎo)出
15.數(shù)據(jù)生成到MS Excel
16.信號(hào)控制測(cè)量測(cè)序
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
01.寬溫區(qū)覆蓋與高適應(yīng)性
支持 RT 至 1500℃℃ 超寬溫度范圍,兼容低溫至超高溫測(cè)試,滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求
提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境,適配材料在不同反應(yīng)條件下的性能評(píng)估
02.高精度與多功能集成
塞貝克系數(shù)測(cè)量范圍 1~2500uV/K,準(zhǔn)確度達(dá) 士7%,重復(fù)性 士3%,精準(zhǔn)捕捉微弱熱電效應(yīng)
電導(dǎo)率測(cè)量范圍覆蓋 0.01~2x105S/cm,準(zhǔn)確度士5~8%,支持從絕緣體到導(dǎo)體的全品類材料電阻率分析
采用靜態(tài)直流法(塞貝克系數(shù))與四端法(電阻率),確保測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定可靠
03.靈活兼容性與操作便捷性
支持圓柱形(φ6mm)、棱柱形(2~5mm面寬)及圓盤狀(10~25.4mm)多種樣品尺寸,適配復(fù)雜形狀試樣
可調(diào)探頭距離(4/6/8mm)與三明治夾持結(jié)構(gòu),保障樣品接觸穩(wěn)定性,減少測(cè)量誤差
電極材料可選鎳(-100~500°C) 或鉑(-100~1500°C),靈活應(yīng)對(duì)不同溫區(qū)與材料特性
04.高穩(wěn)定性與長(zhǎng)周期測(cè)試能力
電源輸出 0~1A,具備長(zhǎng)期穩(wěn)定性,支持連續(xù)高溫實(shí)驗(yàn)與長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)采集
配備K/S/C型熱電偶,實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制
技術(shù)指標(biāo)
01.溫度范圍:RT ~ 800/1100/1500℃
02.測(cè)量原理塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法 ; 電阻率:四端法03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空
04.樣品支架:三明治結(jié)構(gòu)夾與兩電極之間
05.樣品尺寸(圓柱形或棱柱形):2至5 mm(面寬),23mm,φ6mm,23mm
06.樣品尺寸(圓盤狀):10、 12.7、 25.4 mm
07.可調(diào)探頭距離:4、 6、 8 mm
08.塞貝克系數(shù)測(cè)量范圍:1 ~ 2500μV/K準(zhǔn)確度±7%;重復(fù)性±3%
09.電導(dǎo)率測(cè)量范圍:0.01 ~ 2*10^5s/cm準(zhǔn)確度±5-8%;再現(xiàn)性±3%
10.電源:0 ~ 1A,具長(zhǎng)期穩(wěn)定性
11.電極材料:鎳(-100至500°C)/鉑(-100至+1500°C)
12.熱電偶:K/S/C型